中科新闻网实体手机店0元分期付款:X光绕射分析
来源：百度文库 编辑：中科新闻网 时间：2024/05/04 01:26:25
X光绕射分析是什ㄇ东东 ㄚ??
请问依下各位大大
要做报告都找部到很好ㄉ解释
我需要很大量ㄉ介绍和其应用
谢谢...............
请问依下各位大大
要做报告都找部到很好ㄉ解释
我需要很大量ㄉ介绍和其应用
谢谢...............
用X光射线照被分析物体（一般是晶体），根据得到成像图形，来分析和研究被分析物体的精细结构。
一般分析材料结晶构造的方法，主要可分为两大类：一种是利用电子显微镜；另一种即为X光绕射分析法。电子显微镜的光源是一道经高压电场加速的电子束，再经过一系列的电磁透镜，将电子束聚焦在极小的面积上，用以分析材料上微小区域结晶构造的技术。然而，受限于电子的运动与穿透能力，这些分析必须在一个高度真空的环境下进行，而且试样的厚度必须研磨到很薄才行。如此的条件，使得电子显微镜试样的制作较不容易，对于某些化学反应或因氧化腐蚀等所产生的界面层，特别是具有层状结构，或是其结构强度，界面结合力薄弱的薄层等，更增加试片制作上的困难程度。X光绕射分析法的光源为X光射线，X光是一种短波长电磁辐射，其波长约为1A°左右。由于如此波长之电磁波是无法以透镜聚焦，使得仅能用来分析一较大区域，而获得一整体平均的结果，然而也因如此，其为提供一非破坏性的分析方式，甚至可在不同的分析条件，如高温、低温、真空、高压……等特殊环境下进行分析工作。如此不但试样制作容易，也比较能获得接近其原制造环境或使用状况下的结果。表4-1为各种分析仪器的功能用途比较表，可以清楚明白习知用于结晶结构鉴定与分析的仪器设备。